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2011年全新第五版，使用新技術(shù)重新設(shè)計(jì)的AT810D，穩(wěn)定性更佳，全新按鍵設(shè)計(jì)，操作更簡(jiǎn)單。
AT810D采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810D僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴(lài)于安柏儀器精湛的技術(shù)，使其性能亦無(wú)可挑剔。
內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，使其能完全滿(mǎn)足一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統(tǒng)，使AT810D具有傻瓜式操作界面。 |
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| AT810D LCR 數(shù)字電橋技術(shù)規(guī)格 |
| 測(cè)量參數(shù) | LCRZ | | 監(jiān)視參數(shù) | DQθ(deg)θ(rad) | | 基本準(zhǔn)確度 | 0.2% | | 測(cè)試頻率 | 100Hz120Hz1kHz10kHz | | 顯示范圍 | L:0.01μH-9999H C:0.01pF-9999μF RZ:0.0001Ω-99.99MΩ? Q:0.0001-9999 θ(deg):-90.00°-90.00°? θ(rad): -3.1416 – 3.1416 Δ%: -9999% - 9999% D: 0.0001～9.9999 | | 輸出阻抗 | 30Ω100Ω | | 量程 | 6量程自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試 | | 大讀數(shù) | 主參數(shù)：99999 副參數(shù)：99999 | | 信號(hào)電平 | 0.3Vrms和1Vrms | | 測(cè)試速度 | 3次/秒 | | 比較器 | 1組文件記錄，5檔分選 | | 列表掃描 | 無(wú) | | 校準(zhǔn) | 開(kāi)路/短路點(diǎn)頻或掃頻清零 | | 接口 | 無(wú)接口 | | 其它 | VFD顯示，鍵盤(pán)鎖和數(shù)據(jù)保持功能 | | 電源要求 | 電壓：198VAC～240VAC 頻率：50Hz 功率：大20VA | | 尺寸與重量 | 264 (寬)x107(高)x350 (深) ，重量：4kg | | 附件 | ATL501:測(cè)試電纜 ATL607: 測(cè)試夾具 ATL600: 短路片 | |
| AT810D LCR 數(shù)字電橋性能特征 |
| | 高亮度，清晰四色VFD顯示。 | | | 校正功能：全量程程開(kāi)路和短路掃頻清零。 | | | 第三窗口可同時(shí)顯示 Z D Q θ ΔABS Δ%或分選結(jié)果。 | | | 1000V強(qiáng)沖擊保護(hù) | |
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